4200A-SCS半導(dǎo)體分析儀Keithley吉時(shí)利使用4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)xian性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

參數(shù)查看，快速清晰。

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業(yè)知識(shí)（業(yè)界首chuang）可提供測試指南并讓您對(duì)結(jié)果充滿信心。

特點(diǎn)

內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測試開始您的測試
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測量、 切換、 重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

特點(diǎn)

無需重新布線即可將 C-V 測量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個(gè)性化輸出通道名稱
查看實(shí)時(shí)測試狀態(tài)

檢定、 自定義、 大化。

簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級(jí)，您可以對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級(jí)可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評(píng)估。

特點(diǎn)

NBTI/PBTI 測試
隨機(jī)電報(bào)噪聲
非易失內(nèi)存設(shè)備
穩(wěn)壓器應(yīng)用測試

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

“點(diǎn)擊”測試定序
“手動(dòng)”探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試

4200A-SCS半導(dǎo)體分析儀Keithley吉時(shí)利

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