簡要描述:同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀是常州同惠電子采用當前*自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新高度。TH2851系列阻抗分析儀*顛fu了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面,基于Windows10操作系統(tǒng),實現(xiàn)了全電腦化操作界面,讓測試更智能、更簡便。TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸;
詳細介紹
品牌 | 同惠電子 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀
性能
同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀
A. 高精度
自動平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用,得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達到理想的測量精度,其中z高精度達0.08%,遠遠高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。
B. 高穩(wěn)定性和高一致性
下圖是在速度5、測試頻率1MHz,測量100Ω電阻的曲線,由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%(≦±0.0015Ω)
C. 高速度
D. 10.1寸大屏,四種測量參數(shù),讓細節(jié)一覽無遺
10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口,帶來的是無以倫比的操作便捷性。
大屏幕帶來更多的好處是,可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂,同時可以顯示四種測量參數(shù),四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)
E. 增強的列表掃描功能
可以z多設(shè)置1601點的列表掃描,每個點可以單獨設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。
F. 強大的分析圖形界面
z多通道可以z多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法
G.分段掃描功能
z多可以4通道同時顯示,每個通道可以z多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個掃描周期內(nèi),設(shè)置不同的頻率分段進行掃描,掃描時可設(shè)置不同的電平及偏置,掃描結(jié)果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個頻率段參數(shù)的掃描需求。
如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過分段掃描共呢個可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量,無需掃描不相關(guān)頻率。
H.強大的光標分析能力
TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力,可以通過光標實現(xiàn)如下功能:
1. 讀取測量結(jié)果的數(shù)值(作為絕對數(shù)值或者相對于參考點的相對值)
2. 查找曲線上的特定點(光標查找)
3. 分析曲線測量結(jié)果,計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)
4. 使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放
TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個光標,包括了參考光標。
每個光標有一個激勵值(坐標系 X 軸對應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標系 Y 軸對應(yīng)的數(shù)值)。
光標查找功能允許搜索下列條件測量點:z大值、z小值
峰谷值: 峰值(極大值)、谷值(極小值)、光標左側(cè)z近的峰谷值、光標右側(cè)z近的峰谷值、多重峰谷值
目標值: 距離光標z近的目標值、光標左側(cè)z近的目標值、光標右側(cè)z近的目標值、多重目標值
G.強大的圖形分析功能
1) 曲線分選功能
可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。
2)等效電路分析測試
現(xiàn)實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件,等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。
可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲線進行對比,還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用
3) 晶體振蕩器分析
對壓電陶瓷等晶體進行測量以及性能分析,測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。
4) 曲線軌跡對比
曲線軌跡對比用于對被測件進行連續(xù)測量,所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應(yīng)用:
a) 針對多種不同被測件
對比不同測量條件下的曲線軌跡
設(shè)置不同的頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測量值
b) 針對同一個被測件
對比同一個條件下測量的多次測量結(jié)果重復(fù)性
設(shè)置不同頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測量值。
F.標配附件
F.選配附件
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